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Bitte beziehen Sie sich beim Zitieren dieses Dokumentes immer auf folgende
URN: urn:nbn:de:bsz:25-opus-52689
URL: http://www.freidok.uni-freiburg.de/volltexte/5268/


Thiemann, Peter

Avoiding repeated tests in pattern matching

Dokument1.pdf (1.545 KB) (md5sum: 0821b8137a2763ac5f8db71d8923cf84)

Kurzfassung in Deutsch

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SWD-Schlagwörter: Mustererkennung
Institut: Institut für Informatik
DDC-Sachgruppe: Informatik
Dokumentart: Aufsatz
Quelle: Patrick Cousot (Hrsg.): Static analysis : third international workshop; proceedings. Berlin [u.a.]: Springer, 1993, S. 141 - 152
Sprache: Englisch
Erstellungsjahr: 1993
Publikationsdatum: 09.06.2008
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